產(chǎn)品型號(hào)：介電電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)LJC-50KV

控制方式：微機(jī)控制

一、絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)，適用范圍及功能

絕緣材料介電電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī), 主要適用于固體絕緣材料（如：塑料、橡膠、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)）在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。

絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀,由電腦控制，通過(guò)我公司自主研發(fā)的全新智能數(shù)字集成電路系統(tǒng)與軟件控制系統(tǒng)兩部分來(lái)完成，使升壓速率真正做到勻速、準(zhǔn)確，并能夠準(zhǔn)確測(cè)出漏電電流的數(shù)據(jù)。

二、滿足標(biāo)和美標(biāo)等要求

GB1408-2006 絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法

GB/T1695-2005 硫化橡膠工頻電壓擊穿強(qiáng)度和耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)

GB/T3333 電纜紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法

G/T 3330絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度測(cè)定法

GB12656 電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法

ASTM D149 固體電絕緣材料在工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法.

三、絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀，技術(shù)要求：

01、輸入電壓： 交流 220 V

02、輸出電壓： 交流 0--50 KV ;

直流 0—50 KV

03、電器容量： 3KVA

04、高壓分級(jí)：0--50KV，

05、升壓速率： 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S 3000V/S 等

（備注：滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率）

06、試驗(yàn)方式：

直流試驗(yàn)：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

交流試驗(yàn)：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

07、試驗(yàn)介質(zhì)：空氣，試驗(yàn)油

08、安裝靈敏度較高的過(guò)電流保護(hù)裝置保證試樣擊穿時(shí)在0.05S內(nèi)切斷電源。

09、采用智能集成電路進(jìn)行勻速升壓。

10、支持短時(shí)間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。

11、電壓試驗(yàn)精度： ≤ 1％。

12、試驗(yàn)電壓連續(xù)可調(diào)： 0--50KV。

四、 安全保護(hù)

絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)，電路保護(hù)控制：

（1）超壓保護(hù) （2）過(guò)流保護(hù) （3）短路保護(hù)（4）漏電保護(hù) （5）軟件誤操作保護(hù)

高壓輸入回路斷電保護(hù)控制：

(1)總電源開關(guān) (2)調(diào)壓器復(fù)位開關(guān) (3)高壓斷電開關(guān) (4)試驗(yàn)箱門安全開關(guān) (5)高壓回路開關(guān) (6)漏電保護(hù)開關(guān)

在介電強(qiáng)度試驗(yàn)是電氣安全測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)所要求的第三次試驗(yàn)。

的介電強(qiáng)度試驗(yàn)在于測(cè)量裝置的被測(cè)電流泄漏，而相位和中性被短路在一起。介電強(qiáng)度測(cè)試的測(cè)量結(jié)果是電流值，其必須低于標(biāo)準(zhǔn)的指示極限。

然后使用介電強(qiáng)度測(cè)試儀（也稱為高壓測(cè)試儀，介電強(qiáng)度測(cè)試儀，閃光測(cè)試儀，高壓測(cè)試儀）來(lái)測(cè)量該電流。

介電強(qiáng)度測(cè)試電壓

它在AC或DC中執(zhí)行，電壓從幾百伏到幾十千伏不等。測(cè)試電壓的性質(zhì)和價(jià)值的選擇由適用于測(cè)試產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)確定。

在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的情況下，使用以下經(jīng)驗(yàn)法則：測(cè)試總是在與樣品操作的電壓相同的電壓下進(jìn)行。示例：直接用于電池。交替變壓器。

zui大值由下式給出：U test = 2 x U操作+1000 V.

因此，洗衣熨斗制造商將在電壓下執(zhí)行測(cè)試：

Utest = 2x230VAC + 1000VAC

= 1460 VAC。

可以使介電強(qiáng)度測(cè)試具有破壞性或非破壞性。

破壞性測(cè)試

某些標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試要求對(duì)應(yīng)用介電強(qiáng)度測(cè)試的樣品施加高功率源。這需要通過(guò)絕緣材料的碳化來(lái)破壞所測(cè)試的設(shè)備。這些測(cè)試首先用于測(cè)試電力或中高功率電子技術(shù)（斷路器，開關(guān)，變壓器，絕緣體等）中使用的元件或設(shè)備。

泄漏電流隨測(cè)試電壓變化的演變

在該區(qū)域中，高壓測(cè)試儀進(jìn)化zui多，并且在測(cè)量的準(zhǔn)確性和為用戶提供的可能性的數(shù)量方面獲得越來(lái)越高的性能。

非破壞性測(cè)試的特點(diǎn)是使用低功率介電強(qiáng)度測(cè)試儀，其短路電流不超過(guò)幾毫安，其檢測(cè)系統(tǒng)準(zhǔn)確，快速，可在擊穿時(shí)立即抑制測(cè)試電壓。

在大多數(shù)情況下，這種快速消失與電流限制相結(jié)合，避免了在絕緣體中產(chǎn)生不可修復(fù)的穿孔以及在電介質(zhì)表面或內(nèi)部沉積碳酸化殘余物形成溝槽或缺陷。制造過(guò)程中對(duì)部件或設(shè)備的系統(tǒng)測(cè)試使得在測(cè)試樣品時(shí)必須使用這種非破壞性條件。

檢測(cè)介電強(qiáng)度擊穿

因此，必須將擊穿電壓的精確確定附加到電介質(zhì)擊穿現(xiàn)象的電特性值的測(cè)量上。該參數(shù)是流過(guò)經(jīng)受電介質(zhì)的樣品的電流。測(cè)量?jī)x器實(shí)際上有兩種檢測(cè)模式：

- 電流閾值檢測(cè)，

- 電流變化檢測(cè)。

當(dāng)前的閾值檢測(cè)

當(dāng)測(cè)試電壓施加到樣品時(shí)，您會(huì)觀察到 - 后者的某個(gè)值 - 泄漏電流的成比例增加; 該電流是由于所測(cè)試項(xiàng)目的絕緣電阻和/或電容（使用AC，或通過(guò)DC中的負(fù)載效應(yīng)）。如圖1所示，從電壓Uc開始，漏電流非常迅速地增加，并且達(dá)到值Ue的擊穿電壓。

然后電流達(dá)到zui大值，其值由介電強(qiáng)度測(cè)試站的電流電容確定，或者 - 瞬時(shí)值 - 由樣品的電容元件的放電電流決定（不能通過(guò)介電強(qiáng)度測(cè)試的值）測(cè)試儀，在某些情況下可能涉及絕緣體的破壞）。電流閾值檢測(cè)在于選擇泄漏電流的值Is，其對(duì)應(yīng)于與Ur非常相似的電壓Us，并且將漏電流超過(guò)值的任何樣本視為差，將其選擇為檢測(cè)閾值。閾值電流的值，通常用于非破壞性測(cè)試，為1mA。

盡管使用這種檢測(cè)方法并選擇該值對(duì)于純電阻元件（Ic約為10微安）的直流測(cè)試沒(méi)有任何困難，但是對(duì)于電容元件的AC測(cè)試使用它變得不準(zhǔn)確和精細(xì)。

當(dāng)前的變化檢測(cè)

簡(jiǎn)化的測(cè)試循環(huán)

這種檢測(cè)方式消除了以前方法的缺陷; 故障現(xiàn)象的實(shí)際性質(zhì)證明了這一點(diǎn)。通過(guò)觀察擊穿現(xiàn)象，通過(guò)示波器方法，可以斷言它們的特征在于測(cè)試電路中電流的非常急劇的變化; 后者包括介電強(qiáng)度測(cè)試站和測(cè)試樣品（圖2）。故障總是先于局部放電現(xiàn)象，我們將進(jìn)一步分析。

擊穿電流本身通常具有極其陡峭的正向邊緣脈沖的形式，持續(xù)約1微秒或甚至更短，并且其峰值受到測(cè)試臺(tái)和被測(cè)樣品的組合特性的限制。如圖3所示，放電脈沖實(shí)際上沒(méi)有穩(wěn)定的水平和偽指數(shù)負(fù)向邊緣，其時(shí)間常數(shù)是可變的（它取決于擊穿時(shí)電介質(zhì)中的能量轉(zhuǎn)移）。

使用僅考慮泄漏電流的快速變化的檢測(cè)器可以消除由于流過(guò)樣品的電流（元件的阻抗）引起的誤差的原因。

ΔIr= 1mA變化是zui近用于表征擊穿的值。它必須與探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間相關(guān)聯(lián)。響應(yīng)時(shí)間對(duì)于確定擊穿電壓非常重要。實(shí)際上，過(guò)快檢測(cè)（小于1微秒）將使裝置對(duì)擊穿之前的局部放電現(xiàn)象敏感。作為回報(bào)，慢速檢測(cè)（超過(guò)幾十微秒）會(huì)使設(shè)備對(duì)某些故障不敏感，這些故障的能量（產(chǎn)生ΔIf2.Δt）足以具有破壞性，但其持續(xù)時(shí)間太短而無(wú)法考慮通過(guò)探測(cè)器。然而，探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)該非常短，以避免某些絕緣體上的微碳化現(xiàn)象或其他絕緣體的明確破壞。